试验电压值
电气型式试验前,应按GB/T2951.11--2008中8.1规定方法在供试验用的有代表性的-段试样上测量电缆的绝缘厚度,以检查绝缘平均厚度是否超过标称值太多。如果绝缘平均厚度未超过标称厚度5%,试验电压应取表4规定的试验电压值。如果绝缘平均厚度超过标称厚度5%、但不超过15%,应调整试验电压,以使得导体屏蔽上电场强度等于绝缘平均厚度为标称值、且试验电压为表4规定的试验电压值时确定的电场强度。用于电气型式试验的电缆段的绝缘平均厚度不应超过标称值15%。
12.4.2试验及试验顺序
试验a)~h)应按以下顺序进行:
a)弯曲试验(见12.4.3)随后安装附件和在环境温度下的局部放电试验(见12.4.4);
b)tanδ测量(见12.4.5);
注:本项试验可以在未进行本试验序列中其余试验项目的装有特殊试验终端的另-一个电缆试样上进行。
c)热循环电压试验(见12.4.6);
d)局部放电试验(见12.4.4):
在环境温度下进行,以及
在高温下进行。
本试验应在上述c)项最后--次循环后进行,或者在下述e)项雷电冲击电压试验后进行;
e)雷电冲击电压试验及随后的工频电压试验(见12.4.7);
f)局部放电试验,若上述d)项没有进行;
g)接头的外保护层试验(见附录G);
注1:本项试验可以在已经通过c)项热循环电压试验的接头上进行,也可以在经过至少3次热循环(见附录G)的另一个单独的接头上进行。
注2:如果电缆和接头不在潮湿环境下运行(即不直接埋在地下或不间断地或连续浸在水中),则G.3和G.4.2规定的试验可以不做。
h)在上述各项试验完成时,对包含电缆和附件的电缆系统的检验(见12.4.8);
i)电缆半导电屏蔽的电阻率试验(见12.4.9)应在单独的试样上测量。试验电压应符合表4的规定。
弯曲试验
电缆试样应在环境温度下围绕试验用圆柱体(例如电缆盘的筒体)弯曲至少--整圈,然后展直,过程中电缆没有轴向转动。接着应将试样沿电缆轴线旋转180°,重复上述过程。如此作为一个循环。这样的弯曲循环应共进行三次。
试验用圆柱体的直径不应大于:-36(d+D)X1.05,平铝套电缆;-25(d+D)X1.05,铅、铅合金、皱纹金属套或具有与外护套黏结的纵包金属带或纵包金属箔的电缆;-20(d+D)X1.05,其他电缆。
式中:
d一导体标称直径,单位为毫米(mm)[见第6章,i)项];
D-一电缆标称外径,单位为毫米(mm)[见第6章,j)项]。
注:不规定负偏差。只有与制造商协商--致才能用小于规定直径进行弯曲试验。
