整根电缆或电缆试样在试验前应置于温度适当稳定的试验室内至少12h。如怀疑导体或金属屏蔽温度与试验室温度不同,则电缆应放在试验室内24h后再测量电阻。或者可将导体或金属屏蔽试样放置在可控温的恒温槽内至少1h后再测量电阻。导体或金属屏蔽直流电阻应按GB/T3956给出的公式和系数校正到温度为20"C时1km的数值。对于不是铜或铝的金属屏蔽,温度系数和校正公式应分别从JB/T10181.11--2014的表1和2.1.1取得。校正到20C的导体直流电阻不应超过GB/T3956规定的相应的最大值或申明值。校正到20°C的金属屏蔽直流电阻不应超过申明值。
绝缘和外护套厚度测量
概述
试验方法应按GB/T2951.11--2008第8章的规定,但包覆在皱纹金属套上的外护套厚度测量应按照10.6.3给出的方法。应从每根选作试验的电缆的--端(如果必需)截除任何可能受到损伤的部分后,切取--段代表被试电缆的试样。
对绝缘的要求
此外,包覆在基本光滑表面.上的外护套,其测量值的平均值(mm)按附录B修约至一位小数,不应小于标称厚度。
对平均厚度的要求不适用于包覆在不规则表面上的外护套,如包覆在金属屏蔽线和(或)金属带、或皱纹金属套上的外护套。包覆在皱纹金属套上的外护套厚度,应采用具有至少一个半径约为3mm的球面测头、精度为士0.01mm的测微计进行测量。取和测量的步骤如下:
a)从成品电缆上切取包含至少6个波峰和6个波谷的足够长度的一段外护套试样,在该外护套试样的外表面上画一条平行于电缆轴线的参考线。从外护套试样的一端截取的-一个圆环上确定最小厚度的位置,以该最小厚度的位置为中点(以前述的参考线辅助定位)、沿着电缆轴线切取宽度约为20mm~40mm的包含了6个波峰和6个波谷的条状试片。应小心地除去试片上的各种附着物(如防腐涂料);
b)在条状试片_上6个波谷位置(护套较薄处)分别测量每个波谷处的护套最小厚度。6个测量值中最小的一一个即为该皱纹金属套上的外护套的最小测量厚度。
金属套厚度测量
下列试验适用于铅、铅合金或铝金属套电缆。
窄条法
应采用测量面直径为4mm~8mm、精度为士0.01mm的测微计进行测量。应从成品电缆上切取约50mm长的铅套试件进行测量。应将试件沿纵向剖开,并小心地展平。在清洁试片后,应沿着铅套圆周、距试片边缘不小于10mm处在足够多的点上测量，以确保测得最小.厚度。
圆环法
应采用测微计测量,测微计的两个测量面,一个为平面,另-一个为球面,或一个为平面,另一个为长2.4mm、宽0.8mm的矩形平面。球面或矩形平面应适合与环的内侧面接触。测微计精度应为士0.01mm。应从试样上仔细切取铅套圆环进行测量。应沿圆环的圆周在足够多的点上测量,以确保测得最小厚度。
