ELac、ELimp的确定方式[1,2]电缆的绝缘击穿分散性通常以韦伯（Weibull）分布表征，XLPE电缆在电场强度为E时绝缘被击穿的概率为式中,EL为位置参数；E0为尺寸参数；M为形状参数。按电缆绝缘的体积V来表征XLPE电缆在电场强度为E时绝缘被击穿的概率，则式可变换P(E)=1-exp[-k•V(E-EL
式中，k为相关常数。从数值统计意义上看，在XLPE电缆的电场强度为最低击穿场强EL值及以下时，绝缘被击穿的概率为零。
1.1.1电场强度表征值的择取[2～3]。电场强度在内半导电层处有最高场强Emax与平均场强Emean之分。Emax=U/[rln(R/r)］Emean=U/△i式中，R、r为绝缘层、内半导电层的半径；U为电压。有的国家（法国、荷兰等）用对XLPE电缆如充油电缆同样的方式取Emax表征。在法国，对400kVXLPE电缆，绝缘厚度按工频Emaxac=16kV/mm来确定；若截面为1200mm2以下时按冲击Emaximp=85kV/mm来确定；大截面则按工频最小Emaxac=7kV/mm来制约绝缘厚度。另外，由于XLPE电缆绝缘弱点（如杂质等）具有随机分布性，因此，电缆绝缘击穿实际不一定始于Emax，因而认为以Emean表征更为合理。日本、德国、英国、韩国等就采取此方式。此外，试验显示，Emax随d/D（d、D为电缆绝缘的内、外径）比值变化而变化，随电缆截面增大而趋于减小，但Emean却不随d/D比值变化而异，故在XLPE电缆的绝缘厚度为待定对象时，择取Emean较简明合适。1.1.2以包含薄绝缘层试样等测试方式确定击穿场强[2]日本研制500kVXLPE电缆时，在改善绝缘弱点（杂质、半导电层突起等）的生产工艺及其质量监控方面比以往275kVXLPE电缆的制造有了明显的进步。进行绝缘设计时，曾按500kVXLPE电缆工艺条件制备了一批比预期绝缘厚度（25～30mm）薄些（6、9、15mm）的试样。（1）以绝缘层较薄的样品进行测试取得反映绝缘特性的基础数据。以绝缘厚度为6mm的样品40个在室温下测试其击穿场强值整理出按F(x%)的韦伯分布曲线。得到最低击穿场强ELac=57kV/mm、mac=1.4、Eoac=15kV/mm，ELimp=112kV/mm、mimp=1.8、Eoimp=35kV/mm（电缆样品条件d、D分别为16.7mm、28.7mm）；并根据式（3）、（4），按样品长为10m的条件算出V，可求得kac=5.273×10-9/mm3、kimp=3.885×10-9/mm3。又对绝缘厚度分别为6、9、15mm的3类样品分别测试其击穿场强值，察明△i影响Emean的变化情况，结果归纳出测试值的关系式有：ELac(△i)=78△i-0.18（5ELimp(△i)=155△i-0.18（6）(2)按500kVXLPE电缆实际尺寸（△i为27～30mm，截面为2500mm2，d、D分别为61.2、120.2mm，长为20m）算出此时的V值。由式（3）、（4）可推算出此时的Eoac=1.1kV/mm、Eoimp=4.7kV/mm。当△i为27mm时，由式（5）、（6）有ELac=43.1kV/mm、ELimp=85.6kV/mm；若取△i为30mm时，ELac=42.2kV/mm、ELimp=84kV/mm。实际择取ELac=40kV/mm、ELimp=80kV/mm，见表1中所列。（3）对500kVXLPE试制电缆的设计电场强度进行验证试验。施加电压应不小于式（1）、（2）分子项Uac=550K1K2K3/=970kV；Uimp=1425k1k2k3=1960kV
